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密封性測(cè)試儀
電子元器件密封測(cè)試儀【電子元器件檢漏儀】
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產(chǎn)品分類
電子元器件密封測(cè)試儀 MFY-05
電子元器件密封測(cè)試儀 符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T 15171
電子元器件密封測(cè)試儀 技術(shù)特征:
1. 微電腦控制、PVC操作面板
2. 數(shù)字預(yù)置試驗(yàn)真空度及真空保持時(shí)間
3. 專業(yè)氣動(dòng)元件
4. 自動(dòng)恒壓補(bǔ)氣
5. 自動(dòng)結(jié)束試驗(yàn)
6. 自動(dòng)反吹卸載
電子元器件密封測(cè)試儀 技術(shù)參數(shù):
1. 真空度:0~-90KPA
2. 真空誤差:1級(jí)
3. 真空保持時(shí)間: 0.1-60min
4. 進(jìn)氣壓力:0.25—0.6 Mpa (2.5-6 kgf/cm2)
5. 真空室尺寸:Ф300×320mm(標(biāo)配)【其他尺寸可選購(gòu)】
6. 真空室壁厚:15mm
更多詳情,請(qǐng)咨詢濟(jì)南三泉中石業(yè)務(wù)部,王海燕,,.
0531-67813036
